È stato sviluppato un dispositivo sperimentale chiamato CFA (centrifugal friction apparatus) in grado di misurare il coefficiente di attrito statico, ?, tra superfici piane con forze normali molto basse. Esperimenti sono stati condotti con il CFA utilizzando la superficie levigata di wafer di silicio drogato all'arsenico di tipo n per studiare il comportamento di attrito statico in condizioni di carico leggero differenti. Per i carichi inferiori a 100 mgf, la media ? e la deviazione standard sono aumentate con il diminuire del carico normale. Per carichi tra 100 mgf e 1,1 gf ? è risultata una costante nell'intervallo 0,30-0,40. I risultati suggeriscono che, nonostante l'estrema scorrevolezza, l'area reale di contatto è ancora significativamente più piccola dell'area apparente di contatto e ? è ancora una funzione del carico. Prove con particelle solide tra le superfici di accoppiamento del silicio hanno mostrato che in condizioni di basso carico (